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低溫凍融顯微系統(tǒng)適用于觀測(cè)細(xì)胞及材料在不同溫度下的實(shí)時(shí)狀態(tài)。
顯微拉曼測(cè)試系統(tǒng),集合了穩(wěn)定的顯微測(cè)試光路與高分辨掃描技術(shù),適用于二維材料、量子點(diǎn)、鈣鈦礦等光電材料顯微光譜的應(yīng)用。
顯微光電流測(cè)試系統(tǒng)適用于復(fù)雜光電器件測(cè)試表征,可以進(jìn)行IV、CV、光電流等測(cè)試。
18796808197
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